アセンブリの譜柴および得、レビュ`サ`ビス
30定念から贋壓する圭來щフィルムACFと呟圭來擬窮ペ`スト┫＾箟複プロセスは、ディスプレイu夛においてﾚく聞喘されています。イト`グル`プは、これらの室gが楚恢で聞喘される參念からACFメ`カ`とf薦し、F壓の仇了を_楕してきました
イト`グル`プは、2つのACFアプリケ`ションラボを隠嗤しており(アリゾナ巒メサにあるイト`アメリカ、|奨のイト`ジャパン)、光Nプロセスに鬉垢g廾廾崔/債瞳、 テストおよびプロセス_kに旋喘できるさまざまなACF可創を喘吭しています。 これらのYbはO/プロセス_k/デバッグ、および伏bで聞喘するO協パラメ`タ_kに聞喘できます。
ACFメ`カ`/g廾メ`カ`が容XするデザインガイドラインにtってOをMめることが、ACFg廾_kで恷も駅勣な勣殆です、 イト`グル`プは、この函りMみを屶址するために參和のサ`ビスを戻工しています
- 屡贋譜柴のu夛/i藻まり個鋲レビュ`
- 仟号譜柴のu夛/i藻まり個鋲レビュ`
- ACF / ACP俊栽にvする何可O屶址
- -プロジェクト箭: bI喘インクジェットヘッド、匳センサ`、COF(Chip on Flex)g廾、RFIDg廾、ディスプレイg廾、CMOSカメラモジュ`ルg廾、およびFOB(Flex on Board)g廾吉
O頼阻瘁、恷Ku瞳のu夛辛嬬來とi藻まりを恷寄晒するプロセスを_kする駅勣があります。 輝芙のACFアプリケ`ションラボは、參和のサ`ビスを戻工することにより、これも屶址できます。
- 僉協
- g廾廾崔僉協
- 喘嵶垢醤譜柴/シミュレ`ション
- 粥遺酷R彭訳周蝕kと、佚m來テスト屶址
- 屡贋プロセスとの曳熟/恷癖晒
輝芙で戻工辛嬬は佚m來Yは參和の坪否が根まれます。 匯何のテストは芙坪で佩われ、匯何は翌何仏OとのvSを宥じて佩われます。
- 蔭宣膿業
- 酷意鴛檎霞協と蛍裂
- SEM
- R薦スキャン┐海海R薦スキャンの蒙協のペ`ジを歌孚してください。
勣箔される編Y坪否によって、芙坪翌に尅り蛍けて蛍裂をg仏します。輝芙のエンジニアにご猝犬ださい。
